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단파장의 전자빔을 투과시켜 형상을 얻는 전자현미경
시료 표면에 전자빔을 입사시키고 반사된 전자빔을
획득하여 형상을 얻는 전자현미경
X-ray 형광 및 X-ray 회절을 이용한 재료 특성 분석기
SEMIONE INC.
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Tel. 02-944-6922 | Fax. 02-944-6923
Addr. 01811 서울 노원구 공릉로 232,
서울테크노파크 410호
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회사소개
연혁
사업장
Bump Film
Pattern Glass
Probe Needle
Micro Well Chip
Mold
SUS Mold
Si Mold
SU8 Mold
SCR P-series
ENPR K-series
SEM1 & SEM2
사업장주소: 01811 서울 노원구 공릉로 232, 서울테크노파크 410호
대표번호: 02-944-6922