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Analysis Service
TEM
단파장의 전자빔을 투과시켜 형상을 얻는 전자현미경
SEM
시료 표면에 전자빔을 입사시키고 반사된 전자빔을
획득하여 형상을 얻는 전자현미경
XRD & XRF
X-ray 형광 및 X-ray 회절을 이용한 재료 특성 분석기
시료 표면에 전자빔을 입사시키고 반사된 전자빔을 획득하여 형상을 얻는 전자현미경
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