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      TEM

       단파장의 전자빔을 투과시켜 형상을 얻는 전자현미경


      SEM

       시료 표면에 전자빔을 입사시키고 반사된 전자빔을 

       획득하여 형상을 얻는 전자현미경


      XRD & XRF

       X-ray 형광 및 X-ray 회절을 이용한 재료 특성 분석기


TEM

단파장의 전자빔을 투과시켜 형상을 얻는 전자현미경 

SEM

시료 표면에 전자빔을 입사시키고 반사된 전자빔을 획득하여 형상을 얻는 전자현미경


XRF & XRD

X-ray 형광 및 X-ray 회절을 이용한 재료 특성 분석기



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