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▶ 제품 설명
- LCD 검사 장비 부품 중 하나로 1세대 Probe Unit이며 또한 Probe Card의 핵심부품으로 Chip의 Pad에 전기적인 신호를 전달하여 수율을 Check 할 수 있게 연결시켜주는 부품으로 사용합니다.
- LCD 검사장비 부품 중 하나로 1세대 Probe Unit이며 또한 Probe card의
핵심부품으로 Chip의 Pad에 전기적인 신호를 전달하여 수율을 Check
할 수 있게 연결시켜주는 부품으로 사용합니다.
◎ 도금 두께와 상관없이 휘지 않는 Stress Free Ni-Co 도금공정 가능
◎ 7um/hr 로 증착
SEMIONE INC.
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Tel. 02-944-6922 | Fax. 02-944-6923
Addr. 01811 서울 노원구 공릉로 232,
서울테크노파크 410호
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회사소개
연혁
사업장
SUS Mold
Si Mold
SU8 Mold
SCR P-series
ENPR K-series
TEM
SEM1 & SEM2
XRD & XRF
사업장주소: 01811 서울 노원구 공릉로 232, 서울테크노파크 410호
대표번호: 02-944-6922
