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Probe Needle

▶ 제품 설명


    - LCD 검사장비 부품 중 하나로 1세대 Probe Unit이며 또한 Probe card의 

      핵심부품으로 Chip의 Pad에 전기적인 신호를 전달하여 수율을 Check 

      할 수 있게 연결시켜주는 부품으로 사용합니다.


   ◎ 도금 두께와 상관없이 휘지 않는 Stress Free Ni-Co 도금공정 가능

   ◎ 7um/hr 로 증착

   ◎ 납품시 손실 방지를 위한 특수 Jig를 사용




Tel. 02-944-6922 | Fax. 02-944-6923

Addr. 01811 서울 노원구 공릉로 232, 

          서울테크노파크 410호

copyright(c) 2012 SEMIONE INC. All Right Reserved



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