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SEM
FE-SEM 1(Field Emission Scanning Electron Microscope)
전계 방출형 주사 전자 현미경 1
출처 : FE-SEM S-4800 from Hitachi High Technologies America, Inc. | SelectScience
▶ 제품 설명
◎ 모델명 : S-4800
◎ 제조사 : HITACHI
Resolution : 1.0nm(15kV), 1.5nm(1kV)
Magnification : x258 ~ x800,000
Specimen size : 조각시편 ~ ø 200mm
◎ 용도 : 재료의 미세조직 관찰
구성원소 분포
표면 형상 관찰
정성 및 정량분석(EDS)
▶ 분석 문의 : yhjeong08@semione21.co.kr
FE-SEM 2(Field Emission Scanning Electron Microscope)
전계 방출형 주사 전자 현미경 2
출처 : SU5000 : Hitachi High-Tech Korea Co.,Ltd. (hitachi-hightech.com)
◎ 모델명 : SU5000
Resolution : 1.2nm(30kV), 3.0nm(1kV)
Magnification : x10 ~ x600,000
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