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FE-SEM 1(Field Emission Scanning Electron Microscope)

전계 방출형 주사 전자 현미경 1

출처 : FE-SEM S-4800 from Hitachi High Technologies America, Inc. | SelectScience

▶ 제품 설명

   ◎ 모델명 : S-4800

   ◎ 제조사 : HITACHI

                  Resolution : 1.0nm(15kV), 1.5nm(1kV)

                  Magnification : x258 ~ x800,000

                  Specimen size : 조각시편 ~ ø 200mm 

   ◎ 용도 : 재료의 미세조직 관찰

                  구성원소 분포

                  표면 형상 관찰

                  정성 및 정량분석(EDS)

▶ 분석 문의 :  yhjeong08@semione21.co.kr

FE-SEM 2(Field Emission Scanning Electron Microscope)

전계 방출형 주사 전자 현미경 2

출처 : SU5000 : Hitachi High-Tech Korea Co.,Ltd. (hitachi-hightech.com)

▶ 제품 설명

   ◎ 모델명 : SU5000

   ◎ 제조사 : HITACHI

                  Resolution : 1.2nm(30kV), 3.0nm(1kV)

                  Magnification : x10 ~ x600,000

                  Specimen size : 조각시편 ~ ø 200mm 

   ◎ 용도 : 재료의 미세조직 관찰

                  구성원소 분포

                  표면 형상 관찰

                  정성 및 정량분석(EDS)

▶ 분석 문의 :  yhjeong08@semione21.co.kr

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