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FE-STEM(Field Emission Scanning Transmission Electron Microscope)
전계 방출형 투과 전자 현미경
출처 : JEM-2100F Field Emission Electron Microscope | Products | JEOL Ltd.
▶ 제품 설명
◎ 모델명 : JEM-2000F(FEG, Field Emission Gun)
◎ 제조사 : JEOL
Acceleration Voltage : 80 to 200kV
Magnification : x50 ~ x1,500,000
◎ 용도 : 재료의 미세조직 관찰
결정구조 해석
정성 및 정량분석(EDS)
▶ 분석 문의
Mail : yhjeong08@semione21.co.kr
Tel : 02.944.6922
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Addr. 01811 서울 노원구 공릉로 232,
서울테크노파크 410호
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회사소개
연혁
사업장
Bump Film
Pattern Glass
Probe Needle
Micro Well Chip
Mold
SUS Mold
Si Mold
SU8 Mold
SCR P-series
ENPR K-series
SEM1 & SEM2
사업장주소: 01811 서울 노원구 공릉로 232, 서울테크노파크 410호
대표번호: 02-944-6922
