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TEM
FE-STEM(Field Emission Scanning Transmission Electron Microscope)
전계 방출형 투과 전자 현미경
출처 : JEM-2100F Field Emission Electron Microscope | Products | JEOL Ltd.
▶ 제품 설명
◎ 모델명 : JEM-2000F(FEG, Field Emission Gun)
◎ 제조사 : JEOL
Acceleration Voltage : 80 to 200kV
Magnification : x50 ~ x1,500,000
◎ 용도 : 재료의 미세조직 관찰
결정구조 해석
정성 및 정량분석(EDS)
▶ 분석 문의 : mklee@semione21.co.kr
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