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FE-STEM(Field Emission Scanning Transmission Electron Microscope)

전계 방출형 투과 전자 현미경

출처 : JEM-2100F Field Emission Electron Microscope | Products | JEOL Ltd.

▶ 제품 설명

   ◎ 모델명 : JEM-2000F(FEG, Field Emission Gun)

   ◎ 제조사 : JEOL

                  Acceleration Voltage : 80 to 200kV

                  Magnification : x50 ~ x1,500,000

   ◎ 용도 : 재료의 미세조직 관찰

                  결정구조 해석

                  정성 및 정량분석(EDS)

▶ 분석 문의 :  mklee@semione21.co.kr

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