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분석 의뢰


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Home > 분석 의뢰 > TEM


Home  >  분석 의뢰  >  TEM  


FE-STEM(Field Emission Scanning Transmission Electron Microscope)

전계 방출형 투과 전자 현미경

▶ 제품 설명


   ◎ 모델명 : JEM-2000F(FEG, Field Emission Gun)

   

   ◎ 제조사 : JEOL


   ◎ 규격 : Resolution : 0.14nm lattice

                  Acceleration Voltage : 80 to 200kV

                  Magnification : x50 ~ x1,500,000


   ◎ 용도 : 재료의 미세조직 관찰

                  결정구조 해석

                  정성 및 정량분석(EDS)


▶ 분석 문의

    Mail : jenny6806@semione21.co.kr 


FE-STEM(Field Emission Scanning Transmission Electron Microscope)

전계 방출형 투과 전자 현미경

▶ 제품 설명


   ◎ 모델명 : JEM-2000F(FEG, Field Emission Gun)

   

   ◎ 제조사 : JEOL


   ◎ 규격 : Resolution : 0.14nm lattice

                  Acceleration Voltage : 80 to 200kV

                  Magnification : x50 ~ x1,500,000


   ◎ 용도 : 재료의 미세조직 관찰

                  결정구조 해석

                  정성 및 정량분석(EDS)

▶ 분석 문의 

     Mail :  jenny6806@semione21.co.kr 



Tel. 041-542-6922 | Fax. 041-542-6923 

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